基于信息熵的PCB金手指表面镀层缺陷研究

• 作者: 王付军
• 来源期刊: 河南科技
• 学科: 工学
• 关键词: 信息熵 金手指 缺陷 PCB
• 年，卷（期）: 2019,（26）
• 所属期刊栏目: 信息技术
• 页码范围: 29-32
• 页数: 4页
• 分类号: TG142.15
• 字数: 2452字
• 语种: 中文

摘要

PCB的金手指缺陷直接影响电气设备的性能和稳定性.为了克服传统的图像检测PCB金手指表面镀层缺陷,本文提出了利用计算金手指图像的信息熵来检测其表面镀层缺陷,并讨论了两种信息熵检测算法.一是针对金手指表面露铜、氧化等缺陷,基于颜色变化的信息熵检测算法.二是针对金手指表面划伤缺陷,基于结构变异的信息熵检测算法.测试结果表明,金手指表面图像检测能有效识别露铜、划伤等缺陷,对实际的PCB金手指在线检测有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王付军	聊城大学东昌学院	19	32	3.0	4.0