安捷伦矢量网络分析仪E5072A射频测控技术应用

• 作者: 唐明津 胡义平 邓长开
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: E5072A S参数 P1dB IP3
• 年，卷（期）: 2019,（5）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN304.07
• 字数: 2163字
• 语种: 中文

摘要

随着5G通信时代的来临,在半导体射频芯片测试中,越来越多新型号的射频芯片需进行高频率(GHz级别)射频测试,以前的低频(M-Hz级别)射频测试平台已不能满足需求,亟需设计新的测控平台.简单介绍安捷伦E5072A矢量网络分析仪、E5270B精密型Ⅳ分析仪以及N5181B射频模拟信号发生器,同时介绍射频测试主要参数S参数、P1dB和IP3.通过硬件集成与VB编程成功搭建新的高频射频测控平台,并分享关键技术与核心指令代码.经过大量的测试验收,新平台不仅满足测试需求,同时也为未来更高频率的芯片射频测控打下技术基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓长开		2	3	1.0	1.0
2	唐明津		2	3	1.0	1.0
3	胡义平		2	3	1.0	1.0