微波组件在密封试验中失效分析及对策

• 作者: 费静
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 微波组件 密封 细检漏 外界应力 控制措施
• 年，卷（期）: 2019,（8）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 30-32
• 页数: 3页
• 分类号: TN61
• 字数: 1476字
• 语种: 中文

摘要

微波组件的失效与所承受的外界应力紧密相关,通过采用设计改进措施降低薄弱部位承受外界应力的影响,提高产品的可靠性,通过对某型微波组件在密封试验中结构件变形失效的案例分析,提出了采用盖板加固措施,通过了GJB360B方法112条件C试验验证,满足了微波组件在整机上的使用要求,防止在压力环境中盖板变形造成开裂及产品失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	费静		1	0	0.0	0.0