某型微波组件过电应力分析及对策

• 作者: 张树彩
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微波组件 过电应力 失效 措施
• 年，卷（期）: 2011,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 18-22
• 分类号: TN63
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2011.03.005

摘要

电子元器件的失效往往与其承受的电应力是紧密相关的,降低其承受的电应力可以提高其使用可靠性.通过某型微波组件过电应力来源排查,提出了在电路中增加过流保护电阻,增加产品防静电保护包装,整机测试工位加净化电源等措施,由此可以满足微波组件的使用需求,防止过电应力失效故障.

作者信息

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1	张树彩		2	0	0.0	0.0