一种基于多核相关向量机的模拟电路故障预测方法

• 作者: 何怡刚 张兰芳 张朝龙 杜博伦 江善和
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 模拟电路 故障预测 健康度 多核相关向量机 量子粒子群
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 95-101
• 页数: 7页
• 分类号: TH707
• 语种: 中文
• DOI: 10.13382/j.jemi.B1902321

摘要

针对模拟电路的稳定是电子设备正常运行的重要保证,提出了一种用于模拟电路故障预测的方法.首先提取模拟电路的输出电压为预测特征,计算测试元件老化过程中与标称值时响应电压的皮尔逊相关系数,作为测试元件的健康度,并以此为故障预测的样本数据.提出了一种多核相关向量机(MKRVM)方法,基于测试元件的健康度数据,对测试元件的故障发生时间开展预测.在该方法中,MKRVM核函数的系数由量子粒子群算法优化生成.最后以四运放双二阶高通滤波器电路的故障预测实验验证了提出的方法的有效性和先进性.