基于随机扰动技术的共形阵列失效单元非凸压缩感知近场诊断方法

• 作者: Marco Donald Migliore 李玮 杨强 邓维波
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 失效单元 压缩感知 共形阵列 随机扰动 近场诊断 非凸优化算法
• 年，卷（期）: 2019,（12）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 2449-2456
• 页数: 8页
• 分类号: TN820
• 字数: 5428字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2019.12.001

摘要

在基于压缩感知的阵列失效单元近场诊断方法中,使用结构化随机采样策略构造的观测矩阵约束等距特性未知,采用1范数极小化凸优化算法将无法确保阵列失效单元的高概率精确诊断.针对这一不足,本文在深入研究非凸优化算法的基础上提出了一种基于随机扰动技术的非凸压缩感知近场诊断算法.首先在失效单元个数满足稀疏性的前提下构造差异性阵列,其次按照随机欠采样方式获取近场幅相信息,最后利用所提基于随机扰动技术的非凸优化算法对差异性阵列激励进行重构,从而实现对阵列失效单元的高概率精确诊断.数值仿真实验表明,所提算法避免了由于观测矩阵的约束等距特性未知对诊断性能造成的不利影响,并且克服了非凸范数易于陷入局部最优解的弊端,有效提高了阵列失效单元的诊断成功概率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨强	哈尔滨工业大学电子与信息工程学院	30	295	10.0	16.0
3	邓维波	哈尔滨工业大学电子与信息工程学院	65	679	15.0	22.0
5	李玮	哈尔滨工业大学电子与信息工程学院	17	18	3.0	3.0
13	Marco Donald Migliore	意大利卡西诺大学计算机科学与信息工程学院	2	1	1.0	1.0