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摘要:
通过对氮化镓基PIN紫外探测器不同外延结构及芯片制备工艺的研究,发现探测器性能和外延层结晶质量及芯片制备工艺有很大的关系.采用ITO扩展电极制备的探测器反向漏电很大,暗电流高,采用Ni/Au半透明电极制备的探测器芯片,光电流相对ITO透明电极有一定程度的降低,但能保证较低的暗电流,防止器件漏电.
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文献信息
篇名 氮化镓基PIN紫外探测器芯片研究
来源期刊 电子测试 学科
关键词 探测器 紫外 Ni/Au ITO
年,卷(期) 2019,(11) 所属期刊栏目 理论与算法
研究方向 页码范围 63-64
页数 2页 分类号
字数 1108字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-8519.2019.11.022
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李建婷 4 6 1.0 2.0
2 孟锡俊 4 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
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11-3927/TN
大16开
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