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基于二次筛选的电子元器件可靠性研究
基于二次筛选的电子元器件可靠性研究
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摘要：
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基于热分析的电子元器件可靠性探讨
可靠性
温度特性
热优化设计
电子元器件可靠性增长的分析技术
元器件
可靠性增长
分析技术
元器件可靠性增长评估
可靠性
增长
评估
军用元器件使用可靠性保证发展趋势探讨
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主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
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