基于自动测试系统实现系统级芯片异步信号测试

• 作者: 张谦 石君 裴丹丹
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试系统 异步信号 系统级芯片 搜索匹配
• 年，卷（期）: 2020,（2）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: TN307
• 字数: 1162字
• 语种: 中文
• DOI: 10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0206

摘要

大部分的系统级芯片(SoC)具有异步信号,基于自动测试系统(ATE)很难实现稳定的测试.通过外挂Flash芯片对被测SoC器件进行功能配置,自动测试系统对相应的功能进行搜索匹配,可以在自动测试系统上对SoC的异步输出信号进行稳定的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石君		1	0	0.0	0.0
2	张谦		1	0	0.0	0.0
3	裴丹丹		1	0	0.0	0.0