基于SOPC技术的集成电路芯片自动测试系统

• 作者: 刘映群
• 来源期刊: 计算机与现代化
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程片上系统 IP核 集成电路 自动测试系统
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机控制
• 页码范围: 140-143
• 分类号: TP273
• 字数: 2001字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2475.2010.06.040

摘要

介绍一种基于SOPC(可编程片上系统)技术实现的集成电路芯片自动测试系统,采用支持NIOS II软核的Cylone II EP2C35器件为主要部件,并将测试结果通过LCD液晶显示器显示出来.将此系统用于测试74系列中、小规模集成电路芯片,达到了很高的精度,而且可以利用FPGA软、硬件的可编程性,灵活地实现对其它系列器件的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘映群	广东岭南职业技术学院信息工程学院	17	33	3.0	5.0