钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
任务中心
登录
文献导航
学科分类
>
综合
工业技术
科教文艺
医药卫生
基础科学
经济财经
社会科学
农业科学
哲学政法
社会科学II
哲学与人文科学
社会科学I
经济与管理科学
工程科技I
工程科技II
医药卫生科技
信息科技
农业科技
数据库索引
>
中国科学引文数据库
工程索引(美)
日本科学技术振兴机构数据库(日)
文摘杂志(俄)
科学文摘(英)
化学文摘(美)
中国科技论文统计与引文分析数据库
中文社会科学引文索引
科学引文索引(美)
中文核心期刊
cscd
ei
jst
aj
sa
ca
cstpcd
cssci
sci
cpku
默认
篇关摘
篇名
关键词
摘要
全文
作者
作者单位
基金
分类号
搜索文章
搜索思路
钛学术文献服务平台
\
学术期刊
\
工业技术期刊
\
大学学报期刊
\
上海工程技术大学学报期刊
\
塑封分立器金线偏移失效行为分析
塑封分立器金线偏移失效行为分析
作者:
廖秋慧
罗成
陈忠卫
黄涛
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
金线偏移
Moldflow数值模拟
试验设计
剪切剥离试验
摘要:
为研究塑封分立器金线偏移导致金线断路失效问题,通过Moldflow数值模拟对金线偏移进行分析和预测,以金线偏移程度最小为最优目标,对工艺参数进行试验设计(DOE).试验得出金线偏移影响程度为充填时间>模具温度>传递压力.仿真结果得出:金线直径越小,金线偏移程度越大,金线离浇口位置越近,金线偏移程度越大;熔体充填阶段金线剪切应力必须小于剥离应力才不会发生熔体冲断金线现象.在应用最佳工艺参数后,塑封体X线检测结果显示,金线偏移量小,未发生金线冲断现象.
暂无资源
收藏
引用
分享
推荐文章
塑封GaAs MMIC的失效机理及典型案例
微波单片集成电路
失效模式
失效机理
分析案例
军用塑封器件失效机理研究和试验流程
塑封器件
失效机理
试验流程
引线镀层材料不当造成塑封器件漏电失效
引线镀层
银迁移
漏电
失效
塑封铜丝键合器件失效机理及其可靠性评价
塑封器件
铜丝键合
失效机理
可靠性评价
内容分析
文献信息
引文网络
相关学者/机构
相关基金
期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
塑封分立器金线偏移失效行为分析
来源期刊
上海工程技术大学学报
学科
工学
关键词
金线偏移
Moldflow数值模拟
试验设计
剪切剥离试验
年,卷(期)
2020,(1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
59-64
页数
6页
分类号
TQ320
字数
2357字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
廖秋慧
上海工程技术大学材料工程学院
56
206
8.0
11.0
2
黄涛
上海工程技术大学材料工程学院
3
0
0.0
0.0
3
罗成
上海工程技术大学材料工程学院
2
0
0.0
0.0
4
陈忠卫
1
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献
(68)
共引文献
(20)
参考文献
(9)
节点文献
引证文献
(0)
同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
1983(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
1985(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2001(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2003(1)
参考文献(0)
二级参考文献(1)
2004(3)
参考文献(0)
二级参考文献(3)
2005(5)
参考文献(0)
二级参考文献(5)
2006(4)
参考文献(1)
二级参考文献(3)
2007(2)
参考文献(0)
二级参考文献(2)
2008(3)
参考文献(0)
二级参考文献(3)
2009(5)
参考文献(0)
二级参考文献(5)
2010(3)
参考文献(0)
二级参考文献(3)
2011(5)
参考文献(0)
二级参考文献(5)
2012(5)
参考文献(0)
二级参考文献(5)
2013(3)
参考文献(0)
二级参考文献(3)
2014(10)
参考文献(2)
二级参考文献(8)
2015(5)
参考文献(1)
二级参考文献(4)
2016(9)
参考文献(0)
二级参考文献(9)
2017(6)
参考文献(0)
二级参考文献(6)
2018(4)
参考文献(4)
二级参考文献(0)
2019(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2020(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
金线偏移
Moldflow数值模拟
试验设计
剪切剥离试验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海工程技术大学学报
主办单位:
上海工程技术大学
出版周期:
季刊
ISSN:
1009-444X
CN:
31-1598/T
开本:
16开
出版地:
上海市松江大学城龙腾路333号
邮发代号:
创刊时间:
1987
语种:
chi
出版文献量(篇)
1693
总下载数(次)
1
期刊文献
相关文献
1.
塑封GaAs MMIC的失效机理及典型案例
2.
军用塑封器件失效机理研究和试验流程
3.
引线镀层材料不当造成塑封器件漏电失效
4.
塑封铜丝键合器件失效机理及其可靠性评价
5.
手表玫瑰金镀层失效分析
6.
某片式塑封电感器的结构分析
7.
BGA塑封工艺与塑封模设计
8.
塑封器件分层失效实例分析
9.
金线莲与台湾金线莲显微结构比较
10.
基于ARM&CPLD分立器件测试主机总线控制器
11.
塑封器件宇航应用的质量保证方法
12.
线束连接器密封性失效案例分析与优化
13.
广西金线鲃属鱼类一新种——融安金线鲃
14.
金硅面垒型半导体探测器在氢气环境下失效现象的实验研究
15.
塑封半导体器件的可靠性保证措施
推荐文献
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
首页
论文降重
免费查重
学术期刊
任务中心
登录
根据相关规定,获取原文需跳转至原文服务方进行注册认证身份信息
完成下面三个步骤操作后即可获取文献,阅读后请
点击下方页面【继续获取】按钮
钛学术
文献服务平台
学术出版新技术应用与公共服务实验室出品
原文合作方
继续获取
获取文献流程
1.访问原文合作方请等待几秒系统会自动跳转至登录页,首次访问请先注册账号,填写基本信息后,点击【注册】
2.注册后进行实名认证,实名认证成功后点击【返回】
3.检查邮箱地址是否正确,若错误或未填写请填写正确邮箱地址,点击【确认支付】完成获取,文献将在1小时内发送至您的邮箱
*若已注册过原文合作方账号的用户,可跳过上述操作,直接登录后获取原文即可
点击
【获取原文】
按钮,跳转至合作网站。
首次获取需要在合作网站
进行注册。
注册并实名认证,认证后点击
【返回】按钮。
确认邮箱信息,点击
【确认支付】
, 订单将在一小时内发送至您的邮箱。
*
若已经注册过合作网站账号,请忽略第二、三步,直接登录即可。
期刊分类
期刊(年)
期刊(期)
期刊推荐
一般工业技术
交通运输
军事科技
冶金工业
动力工程
化学工业
原子能技术
大学学报
建筑科学
无线电电子学与电信技术
机械与仪表工业
水利工程
环境科学与安全科学
电工技术
石油与天然气工业
矿业工程
自动化技术与计算机技术
航空航天
轻工业与手工业
金属学与金属工艺
上海工程技术大学学报2021
上海工程技术大学学报2020
上海工程技术大学学报2019
上海工程技术大学学报2018
上海工程技术大学学报2017
上海工程技术大学学报2016
上海工程技术大学学报2015
上海工程技术大学学报2014
上海工程技术大学学报2013
上海工程技术大学学报2012
上海工程技术大学学报2011
上海工程技术大学学报2010
上海工程技术大学学报2009
上海工程技术大学学报2008
上海工程技术大学学报2007
上海工程技术大学学报2006
上海工程技术大学学报2005
上海工程技术大学学报2004
上海工程技术大学学报2003
上海工程技术大学学报2002
上海工程技术大学学报2001
上海工程技术大学学报2020年第4期
上海工程技术大学学报2020年第3期
上海工程技术大学学报2020年第2期
上海工程技术大学学报2020年第1期
关于我们
用户协议
隐私政策
知识产权保护
期刊导航
免费查重
论文知识
钛学术官网
按字母查找期刊:
A
B
C
D
E
F
G
H
I
J
K
L
M
N
O
P
Q
R
S
T
U
V
W
X
Y
Z
其他
联系合作 广告推广: shenyukuan@paperpass.com
京ICP备2021016839号
营业执照
版物经营许可证:新出发 京零 字第 朝220126号