一种基于V93000的高速缓冲器测试方法

• 作者: 张一圣 张兴 武新郑
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 高速缓冲器 V93000 ATE测试
• 年，卷（期）: 2020,（11）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 26-29
• 页数: 4页
• 分类号: TN407|TN79
• 语种: 中文

摘要

普通的缓冲器芯片频率大多只有1～20MHz,但是随着科学技术的不断发展,缓冲器芯片都朝着高速方向发展.这样对于保障芯片质量的集成电路测试而言也提出了新的要求.该文以TI公司的SN74LVC 2T45为例,该芯片最大频率可达210MHz,针对功能测试、部分直流测试、交流测试三个方向,介绍了一种基于V93000测试机台的高速缓冲器测试方法.