基于 V93000的 SoC 中端口非测试复用的ADC 和 DAC IP 核性能测试方案

• 作者: 李兆麟 李圣龙 裴颂伟 魏少军
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 片上系统 模数转换器 数模转换器 V93000测试仪 性能参数
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 1358-1364
• 页数: 7页
• 分类号: TP306+.2
• 字数: 5488字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.07.018

摘要

SoC （System-on-a-Chip ）芯片设计中，由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑，通常有一些端口不能进行测试复用的IP（Intellectual Property ）核将不可避免地被集成在SoC芯片当中。对于端口非测试复用IP核，由于其端口不能被直接连接到ATE（Automatic Test Equipment ）设备的测试通道上，由此，对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战。在本文当中，我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC （Analog-to-Digital Converter ）以及DAC （Digital-to-Analog Converter ）IP核的性能参数测试方法。对于端口非测试复用ADC和DAC IP核，首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF （External Memory Interface ）总线对其进行配置。在对ADC和DAC IP核进行配置以后，就可以通过V93000捕获ADC IP核采样得到的数字代码以及通过V93000采样DAC IP核转换得到的模拟电压值，并由此计算ADC以及DAC IP核的性能参数。实验结果表明，本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP核测试方案非常有效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏少军	清华大学微电子研究所	66	406	9.0	18.0
2	李兆麟	清华大学信息技术研究院	8	92	4.0	8.0
3	裴颂伟	清华大学信息技术研究院	1	9	1.0	1.0
4	李圣龙	清华大学微电子研究所	1	9	1.0	1.0