基于性能退化数据的固态微波功率器件加速寿命试验

• 作者: 柳华光 王文娟 王耀国 邢荣欣
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 微波功率器件 加速寿命试验 性能退化
• 年，卷（期）: 2020,（10）
• 所属期刊栏目: 可靠性分析
• 页码范围: 53-57
• 页数: 5页
• 分类号: TN307|TN62
• 语种: 中文

摘要

该文针对固态微波功率器件的实际工作条件,选择GaN固态微波功率器件,开展直流稳态加速寿命试验和射频动态加速寿命试验,通过二者试验数据,分析器件的退化趋势,并得出器件的失效率,对固态微波功率器件的寿命可靠性研究提供参考.