硅脉冲微波功率器件增益退化机理研究

• 作者: 崔晓英 廖超 李斌 来萍
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 微波功率晶体管 功率增益 失效机理 退化
• 年，卷（期）: 2007,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 4-7
• 页数: 4页
• 分类号: TN323
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2007.06.002

摘要

介绍了硅双极型微波功率晶体管的发展历史和应用现状.针对硅脉冲微波功率器件增益退化的失效模式,通过对硅脉冲微波功率器件直流参数的统计分析,初步得出了其失效机理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来萍		8	62	4.0	7.0
2	李斌	华南理工大学物理科学与技术学院	128	542	12.0	17.0
3	崔晓英		3	24	2.0	3.0
4	廖超	华南理工大学物理科学与技术学院	2	5	2.0	2.0