X射线光电子能谱测定元素化学态的常见问题探讨

• 作者: 丁小艳 娄金分 曾淦宁 武晓 艾宁
• 来源期刊: 广州化工
• 学科: 化学
• 关键词: X射线光电子能谱(XPS) 分峰 化学价态
• 年，卷（期）: 2020,（16）
• 所属期刊栏目: 分析测试
• 页码范围: 85-87
• 页数: 3页
• 分类号: O657.3
• 字数: 1826字
• 语种: 中文

摘要

X射线光电子能谱(XPS)是一种表面灵敏的定量谱学技术,可以用于分析材料中存在的元素(除氢、氦)构成以及元素的化学态和电子态,是研究原子、分子及固体材料的一种有力工具.XPS在分峰拟合过程中,半峰宽、峰面积、峰间距以及已有的实验结果的归纳均会影响分峰结果的准确性.以一种新型复合材料-纳米零价铁活性炭(NZVI/AC)为例,通过XPS分析其去除水中Cr(Ⅵ)过程中材料表面的元素价态变化,探讨分峰过程中常见的错误对实验结果造成的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	艾宁	浙江工业大学化学工程学院	69	508	15.0	20.0
2	曾淦宁	浙江工业大学化学工程学院	30	200	10.0	13.0
3	娄金分		3	4	1.0	2.0
4	武晓		2	1	1.0	1.0
5	丁小艳		2	0	0.0	0.0