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摘要:
为了优化单晶铌酸锂薄膜光波导的性能,研究了基于单晶铌酸锂薄膜材料的光波导刻蚀工艺.虽然Ar+物理刻蚀能够达到最高95 nm/min的刻蚀速率,但难以获得光滑的波导侧壁,且以Cr作为掩膜的刻蚀选择比为1∶1,这意味着较差的选择性使其难以实现铌酸锂的深刻蚀.而采用反应离子刻蚀(RIE)得到的刻蚀速率较低,但是以Cr作为掩膜的刻蚀选择比能够达到6∶1以上,同时能够获得光滑、陡直的侧壁形貌.最终在450 nm厚度的单晶铌酸锂薄膜上,采用RIE制备了宽度为4μm、高度为370 nm的脊型光波导,并以端面耦合的方法进行测试,得到该波导的传输损耗约为5.2 dB/cm.
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文献信息
篇名 单晶铌酸锂薄膜光波导的制备研究
来源期刊 真空科学与技术学报 学科 物理学
关键词 铌酸锂 氩离子刻蚀 反应离子刻蚀 光波导
年,卷(期) 2021,(1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 44-49
页数 6页 分类号 O484
字数 语种 中文
DOI 10.13922/j.cnki.cjvst.202001015
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铌酸锂
氩离子刻蚀
反应离子刻蚀
光波导
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真空科学与技术学报
月刊
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1981
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