基于分子流传感元件的真空腔体漏率测量方法

• 作者: 程霞 陈志强 方嬿 花雨 金炯 王旭迪
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 关键词: 分子流 整体漏率测量 质量流量 流量守恒
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 139-144
• 页数: 6页
• 分类号: TB771
• 语种: 中文
• DOI: 10.13922/j.cnki.cjvst.202005025

摘要

本文介绍了一种基于分子流传感元件的真空腔体漏率测量方法,该方法通过分子流传感元件测量真空腔体整体漏率,采用的测量装置由气体流量测量系统、真空抽气系统、恒温系统等部分组成.在测量系统中,流经传感元件的气流处于分子流状态,通过测量传感元件两端的差压,计算质量流量,可以得到真空腔体的整体漏率.实验中对多个真空腔体漏率的测量结果表明,该方法可以实现对10-5-10-3 Pa·m3/s量级真空腔体漏率的准确测量.除去本底漏率之后,测量结果与理论结果高度拟合,测量结果显示最小偏差为0.05％,最大仅为0.62％.且通过改变分子流传感元件流导值和差压变送器量程可以进一步扩展该方法可测真空腔体整体漏率范围.