一种基于测试模式的MCU低功耗测量方法

• 作者: 丁伟
• 来源期刊: 集成电路应用
• 关键词: MCU芯片 低功耗 测试模式 测试成本
• 年，卷（期）: 2021,（2）
• 所属期刊栏目: 工艺与制造|Process and Fabrication
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.19339/j.issn.1674-2583.2021.02.008

摘要

通过对现有测试模式电路的改进,阐述在测试模式下实现功能模式相同的低功耗场景,达到测量MCU芯片最低功耗的目的.该方法简单快捷,降低了对测试基台的要求,节省了测试时间.