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关于DOE方法在TFT-LCD Mura设备检出率提升的应用
关于DOE方法在TFT-LCD Mura设备检出率提升的应用
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摘要：
当前TFT-LCD事业飞速发展,产品质量作为企业的灵魂,关乎企业的核心竞争力.本文以8.5G TFT产线为例,将DOE方法应用在产品质量检测设备的参数优化实验设计中,希望对企业生产提供有力帮助.
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主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
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