一种Xilinx FPGA有效配置位保护方法

• 作者: 王鹏 刘正清 田毅
• 来源期刊: 电讯技术
• 学科: 工学
• 关键词: 机载电子设备 单粒子翻转(SEU) 容错方法 有效配置位
• 年，卷（期）: 2022,（3）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程|Electronics and Information Engineering
• 页码范围: 379-384
• 页数: 6页
• 分类号: TN79
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-893x.2022.03.017

摘要

机载电子设备中广泛采用的静态随机存储器(Static Random Access Memory,SRAM)型现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)易受到大气中子辐射的影响而发生单粒子翻转.为了提高抗干扰能力,针对SRAM型FP GA需要进行抗单粒子翻转防护,提出了一种Xilinx FP GA有效配置位的保护方法.该方法提取电路中的有效配置位,纠错电路检测到电路中发生单粒子翻转时,纠正有效配置位上发生的翻转.实验表明该方法可以有效保护Xilinx FP GA的有效配置位并提高了纠错电路的效率.