Xilinx低等级FPGA高可靠应用的升级试验方法研究

• 作者: 刘迎辉 唐民 宁永成 张大宇 朱恒静 段超
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 现场可编程门阵列 低等级 高可靠性 升级试验
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 11-17
• 页数: 7页
• 分类号: V443|TN43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.01.003

摘要

随着微电子设计与制造水平的不断提高,部分低质量等级集成电路逐渐地具备了应用于高可靠性要求的军事和宇航领域的能力.Xilinx FPGA作为高性能逻辑器件的典型代表,具有较高的设计和工艺成熟度,在军事和宇航领域有着广阔的应用前景.全面梳理了Xilinx FPGA质量等级的定义规则,详细介绍了Xilinx不同质量等级FPGA的厂家保证情况,提出了Xilinx低质量等级FPGA面向高可靠应用的升级试验方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐民		14	65	5.0	7.0
2	朱恒静		18	57	4.0	6.0
3	段超		5	8	2.0	2.0
4	宁永成		11	30	3.0	5.0
5	刘迎辉		3	7	2.0	2.0
6	张大宇		7	36	4.0	6.0