WS2纳米薄膜厚度依赖的三阶非线性吸收特性研究

• 作者: 靳延平 卢春辉 赵奇一 徐新龙
• 来源期刊: 光子学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 二硫化钨 三阶非线性 可饱和吸收 厚度依赖 Z扫描
• 年，卷（期）: 2022,（4）
• 所属期刊栏目: 材料|Materials
• 页码范围: 417-423
• 页数: 7页
• 分类号: O437
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/gzxb20225104.0416002

摘要

利用液相剥离法制备了WS2纳米片,结合真空抽滤技术,控制上清液体积制备了不同厚度的WS2薄膜.在此基础上,使用800 nm飞秒激光的Z扫描技术表征了WS2纳米薄膜的三阶非线性吸收特性.研究发现,制备的不同厚度的WS2都表现出可饱和吸收特性,可饱和吸收主要是由于单光子吸收所引起的泡利阻塞效应引起;随着厚度的增加,饱和强度基本不变,调制深度会有所提高,但是三阶非线性极化率虚部的绝对值和品质因子会降低.这主要是因为较厚的薄膜缺陷更多,更容易捕获光生载流子,从而三阶非线性吸收和厚度有一定的依赖关系.可饱和吸收可以用于调Q激光器以及锁模激光器,为WS2薄膜在超快开关和超快激光的应用提供实验支持.