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半导体元件
自动测试系统
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期刊影响力
电子与仪表
主办单位：
上海市电子仪表科技情报研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
31-1446/TN
开本：
出版地：
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
1004
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