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CMOS电路IDDQ测试电路设计
IDDQ测试
测试方法
电流检测
CMOS电路
CMOS集成电路IDD频谱图形测试理论与实践
互补金属氧化物半导体集成电路
电源电流
缺陷
开关电流
频谱图形
测试向量
一种磁通门相敏整流电路研究
磁通门传感器
相敏整流
锁相环放大器
温度性能
一种基于改进型数字相敏整流电路的磁通门传感器设计
数字磁通门传感器
相敏整流
异或运算
分辨力
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 CMOS磁敏电路CH235的参数及测试
来源期刊 上海半导体 学科 工学
关键词 CMOS 磁敏电路 参数 测试
年,卷(期) 1989,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 27-32
页数 6页 分类号 TN432.07
字数 语种
DOI
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1989(0)
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研究主题发展历程
节点文献
CMOS
磁敏电路
参数
测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
上海微电子技术和应用
季刊
1006-9453
31-1239/TN
上海市胶州路397号 上海半导体器件研究
出版文献量(篇)
435
总下载数(次)
3
总被引数(次)
0
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