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微处理器高低速模式下的单粒子功能错误分析
单粒子效应
微处理器
单粒子功能错误
单粒子翻转
高可靠微处理器的设计
微处理器
加固技术
单粒子
故障注入
基于激光实验探测32位微处理器的敏感体深度
微处理器
敏感体深度
激光背部辐照
错误率预估
高可靠微处理器结构与实现
容错
三模冗余(rMR)
错误纠一检二(SEC-DED)
可靠性
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 微处理器工艺及其对单粒子翻转的敏感度
来源期刊 控制工程(北京) 学科 航空航天
关键词 微处理器 单粒子翻转 卫星 电子器件 敏感度
年,卷(期) kzgcbj_1998,(6) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 47-54,59
页数 9页 分类号 V443
字数 语种 中文
DOI
五维指标
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引文网络
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1998(0)
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研究主题发展历程
节点文献
微处理器
单粒子翻转
卫星
电子器件
敏感度
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
控制工程(北京)
双月刊
北京2729信箱21分箱
出版文献量(篇)
1045
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6
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