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HGCDTE多载流子体系的迁移率谱分析
HGCDTE多载流子体系的迁移率谱分析
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摘要：
通过迁移率谱分析法对LPE和MBE生长的N－HGCDTE样品进行了研究,获得了样品中体电子、体空穴以及界面电子的迁移率和浓度.通过迁移率谱分析法获得的样品中体电子和界面电子随温度的变化规律与理论分析完全吻合
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多载流子体系
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期刊影响力
红外与毫米波学报
主办单位：
中国光学学会
中国科学院上海技术物理所
出版周期：
双月刊
ISSN：
1001-9014
CN：
31-1577/TN
开本：
大16开
出版地：
上海市玉田路500号
邮发代号：
4-335
创刊时间：
1982
语种：
chi
出版文献量（篇）
2620
总下载数（次）
3
总被引数（次）
28003
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