组合电路门时滞故障的可测性分析

• 作者: 王勇 陈光(祚)
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 门时滞故障 可测性测度 可控制性 可观测性
• 年，卷（期）: 1999,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 58-61
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 2599字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.1999.01.014

摘要

根据门时滞故障测试的特点,定义了一种门时滞故障的可测性测度(即上升沿和下降沿门时滞故障的可控制性和可观测性),并提出了相应的计算方法,为基于门时滞故障的电路可测性设计提供了理论依据.