混合故障模型下离散Hopfield联想存储器的鲁棒性

• 作者: 胡东成 许荔秦
• 来源期刊: 清华大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 离散Hopfield联想存储器 神经网络 鲁棒性 混合故障模型
• 年，卷（期）: 1999,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TP18
• 字数: 2485字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0054.1999.07.012

摘要

离散Hopfield联想存储器(DHAM)在联想记忆方面有很大的优点,但是在硬件实现过程中存在着各种故障.对于软硬故障同时存在情况下DHAM的性能进行分析是很有必要的.该文对DHAM建立了同时包含权值误差、权值断路、神经元输出固值等各种软、硬故障的故障模型,定义了概率意义下DHAM的鲁棒性.运用概论统计的方法推导出了运行于同步方式下DHAM的鲁棒性,推导中对结果进行了近似处理.对DHAM系统进行了仿真实验,与利用这种鲁棒性分析方法计算进行了对比,结果相差非常小,证实了此方法的正确性,可以用于 DHAM的可靠性计算.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡东成	清华大学自动化系	71	1300	18.0	34.0
2	许荔秦	清华大学自动化系	6	12	3.0	3.0