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摘要:
提出了一种基于Zernike矩的边缘检测方法.根据建立的四参数边缘模型,利用Zernike矩的性质导出了边缘参数和矩的关系,通过求矩得到边缘参数.所提出的方法可以达到子像素级检测精度,对噪声不敏感,具有良好的稳定性.
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内容分析
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文献信息
篇名 基于 Zernike 矩的边缘检测方法
来源期刊 华中理工大学学报 学科 工学
关键词 边缘检测 Zernike矩 子像素
年,卷(期) 1999,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1-2
页数 2页 分类号 TP75
字数 1529字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1671-4512.1999.05.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 柳健 华中理工大学电子与信息工程系 20 606 13.0 20.0
2 邹宁 华中理工大学电子与信息工程系 4 69 3.0 4.0
3 周曼丽 华中理工大学电子与信息工程系 7 164 4.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
边缘检测
Zernike矩
子像素
研究起点
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
华中科技大学学报(自然科学版)
月刊
1671-4512
42-1658/N
大16开
武汉市珞喻路1037号
38-9
1973
chi
出版文献量(篇)
9146
总下载数(次)
26
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88536
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