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基于规范化描述的微处理器功能测试
基于规范化描述的微处理器功能测试
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摘要：
基于规范化描述,提出了对微处理器进行功能测试的一种方法,给出了实现和结论.对各种复杂数字系统测试有一定的理论和实用价值.
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文献信息
| 篇名 | 基于规范化描述的微处理器功能测试 | ||
| 来源期刊 | 扬州大学学报（自然科学版） | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 微处理机 控制器 功能 测试 | ||
| 年，卷（期） | 2000,（1） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 75-78 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | TP332.3|TP306 |
| 字数 | 3742字 | 语种 | 中文 |
| DOI | 10.3969/j.issn.1007-824X.2000.01.018 | ||
五维指标
引文网络
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研究主题发展历程
节点文献
微处理机
控制器
功能
测试
研究起点
研究来源
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
扬州大学学报(自然科学版)
主办单位：
扬州大学
出版周期：
季刊
ISSN：
1007-824X
CN：
32-1472/N
开本：
大16开
出版地：
江苏省扬州市大学南路88号
邮发代号：
28-48
创刊时间：
1974
语种：
chi
出版文献量（篇）
1577
总下载数（次）
2
总被引数（次）
8111
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