边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现

• 作者: 谈恩民 郭学仁
• 来源期刊: 桂林电子工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: BIST 边界扫描 FPGA 内核 VHDL
• 年，卷（期）: 2000,（1）
• 所属期刊栏目: 技术报告
• 页码范围: 86-90
• 页数: 5页
• 分类号: TN45
• 字数: 443字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2000.01.019

摘要

从国内厂家一个实际的内核电路出发,对其进行BIST插入及边界扫描测试的研究;在VHDL描述的基础上,用FPGA实现设计思想,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行,其过程验证了将边界扫描和BIST技术应用于MCM或PCB板功能测试的可行性.