边界扫描测试-复杂MCM的主流测试技术

• 作者: 郭学仁
• 来源期刊: 桂林电子工业学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性 边界扫描 MCM
• 年，卷（期）: 2000,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 14-20
• 页数: 7页
• 分类号: TN206.1
• 字数: 5116字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-808X.2000.04.004

摘要

IEEE-1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂MCM和PCB测试问题的主流测试技术.本文概要论及与测试相关的设计特性,详细讨论了不同MCM的边界扫描测试策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭学仁	桂林电子工业学院电子工程系	4	26	2.0	4.0