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摘要:
介绍了利用电子束和X射线束双曝光技术制作大高宽比高分辨率的X射线聚焦或色散元件的新方法(波长范围为1~5nm).所制做的厚度为10μm的Au波带片具有30个波带,最外环的宽度为0.5μm.实验表明:对8keV的X射线来说,波带片的衬度大于10,分辨率为0.55μm,焦距为21.3cm.
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文献信息
篇名 电子束和X射线双曝光制作大高宽比高分辨率的X射线波带片
来源期刊 光学技术 学科 物理学
关键词 波带片 电子束刻蚀 X射线光刻
年,卷(期) 2000,(6) 所属期刊栏目 工艺
研究方向 页码范围 524-525,528
页数 3页 分类号 O484.4|O434.1
字数 1536字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1002-1582.2000.06.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 康士秀 中国科学技术大学天文与应用物理系 17 114 8.0 10.0
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2002(1)
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研究主题发展历程
节点文献
波带片
电子束刻蚀
X射线光刻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
总下载数(次)
6
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