大高宽比、高线密度X射线透射光栅的制作

• 作者: 刘刚 李文杰 柳龙华 熊瑛 田扬超 田金萍 陈洁 黄新龙
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: X射线透射光栅 电子束光刻 X射线光刻 X射线显微成像技术
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 72-77
• 页数: 6页
• 分类号: O436.1|TN305.7
• 字数: 3013字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2009.01.012

摘要

利用电子束光刻、X射线光刻和微电镀技术,成功制作了面积为1 mm×1 mm,周期为300 nm,金吸收体厚度为1 μm的用于X射线显微成像的透射光栅.首先,利用电子束光刻和微电镀技术在Si3N4薄膜上制作周期为300 nm,厚度为250 nm的高线密度光栅掩模;然后,利用X射线光刻和微电镀技术复制厚度为1 μm,占空比接近1∶1,高宽比为7的X射线透射光栅.整个工艺流程充分利用了电子束光刻技术制作高分辨率图形和X射线光刻技术制作大高宽比结构的优点,实现了大高宽比、纳米尺度、侧壁陡直的X射线透射光栅的制作.