印制电路与集成电路

• 来源期刊: 电子科技文摘
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 印制电路 电路测试 新方法 压缩方法 电路与系统 有效方法 会议录 微电子学 模拟电路
• 年，卷（期）: 2000,（12）
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TN

摘要

【正】 Y2000-62040-837 0020070测试和自测(含3篇文章)=Session TB5:testing andself-testing[会,英]//Proceedings of 16th IEEE Instru-mentation and Measurement Technology Conference,Vol.2.-837～855(F)本部分收录3篇文章。题目是:基于大缺陷的MOS 电路测试的新方法,集成电路高速自测的有效方法,用于 VLSI 机内自测的新型空间压缩方法。