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摘要:
本文根据场致发射原理,结合彩管制造技术的特点,对彩管制造过程中G2电极寄生发射不良产生的原因作出科学、合理的解释,确定其原因,并据此有针对性地采取有效措施。
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文献信息
篇名 彩管G2电极寄生发射的研究与对策
来源期刊 真空电子技术 学科 工学
关键词 寄生发射 逸出功 场致发射 TEW测试 GR测量
年,卷(期) 2001,(1) 所属期刊栏目 设计与研究
研究方向 页码范围 20-22
页数 3页 分类号 TNB830
字数 3342字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.2001.01.006
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序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨秦川 3 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
寄生发射
逸出功
场致发射
TEW测试
GR测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
1959
chi
出版文献量(篇)
2372
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8712
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