残差X-图对平稳可逆ARMA过程数据的检验能力

• 作者: 姜永康 王静龙
• 来源期刊: 应用概率统计
• 学科: 数学
• 关键词: 残差X-图 X-图 平稳可逆的ARMA过程
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 51-58
• 页数: 8页
• 分类号: O213.1
• 字数: 4084字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4268.2001.01.009

摘要

本文将SPC(Statistical Process Contro1)技术应用于自相关数据，使用的基本方法是对数据做残差处理，本文给出了对于平稳可逆的ARMA过程数据，在检验过程均值变化方面，残差X-图优于X-图的条件。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王静龙	华东师范大学统计系	23	195	7.0	13.0
2	姜永康	华东师范大学统计系	3	5	1.0	2.0