基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
248 nm Krf激光投影成像系统设计与参数分析
激光投影成像
扫描曝光
焦深
分辨率
0.13μm工艺与248nm KrF光刻机
0.13μm工艺
248nmKrF光刻机
高k/低k绝缘材料
铜互连
冷压印光刻中高分辨率抗蚀剂的研究
集成电路
抗蚀剂
冷压印光刻
0.2m分辨率补偿密度测井仪设计与应用
补偿密度测井仪
分辨率
薄层
探测器
数值模拟
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 ASML公司推出0.12μm分辨率的248 nm KrF光刻设备
来源期刊 电子工业专用设备 学科
关键词
年,卷(期) 2001,(1) 所属期刊栏目 新技术介绍
研究方向 页码范围 22
页数 1页 分类号
字数 576字 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (0)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
2001(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
论文1v1指导