数字集成电路测试系统结构分析

• 作者: 赵龙 鹿梅
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路测试系统、功能测试 静态参数测试 动态参数测试
• 年，卷（期）: 2001,（2）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN4
• 字数: 3096字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2001.02.009

摘要

本文介绍大规模数字集成电路自动化测试系统的基本构成

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵龙	上海集成电路设计研究中心测试部	2	6	2.0	2.0
2	鹿梅	信息产业部电子第58研究所八室	1	4	1.0	1.0