多层系统周期样品PSTM消假像微扰近似

• 作者: 吴世法 潘石 王晓秋 简国树
• 来源期刊: 电子显微学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光子扫描隧道显微镜 近场强度 消假像
• 年，卷（期）: 2001,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 654-657
• 页数: 4页
• 分类号: TN911.74|TN16
• 字数: 1646字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6281.2001.05.024

摘要

本文利用一级微扰近似方法对三层系统(样品台-样品-空气)表面周期起伏样品采用π-对称双激光束照射得到等强度和等高度扫描的数值模拟近场强度图像.通过与单激光束照射图像比较,作者看到双激光束照射下的一级微扰图像能够除去由样品表面起伏的微扰而产生的动量局域偏移,也可减小由表面倾角引起的假像.此三层系统起伏样品能够较真实地模拟实验,对PSTM的实际探测有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晓秋	大连大学物理系	10	28	4.0	5.0
3	简国树	大连理工大学物理系	25	95	6.0	8.0
4	潘石	大连理工大学物理系	45	254	9.0	13.0
5	吴世法	大连理工大学物理系	41	336	10.0	17.0