不经一番测试苦,哪知产品真本事我们如何测试3D显卡

• 作者: 蔡家盛
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2001,（10）
• 所属期刊栏目: 产品采购特集1
• 页码范围: 83-84
• 页数: 2页
• 分类号: TP3
• 字数: 3064字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2001.10.016