硅验证及其实践

• 作者: 粟鹏义
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 硅验证 软件测试 质量保证 电子设计自动化 可编程逻辑器件
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 软件可靠性与评测技术
• 页码范围: 23-26
• 页数: 4页
• 分类号: TP393.08
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.01.006

摘要

用于可编程逻辑器件(PLD)的电子设计自动化软件将用户的电子设计最终生成熔丝映射文件如JEDEC、SVF文件,并下载到PLD器件中去.随着器件的密度越来越大,在PLD EDA软件的质量保证中测试熔丝映射文件的正确性对测试工程师来说是一个挑战,而硅验证即为一种重要的方法.介绍了硅验证的地位、作用和方法及其具体流程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	粟鹏义		5	19	3.0	4.0