电子产品的贮存可靠性研究

• 作者: 丁武学 潘永跃
• 来源期刊: 南京理工大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 贮存 可靠性 电子产品 加速寿命试验
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TN07
• 字数: 2345字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9830.2002.01.008

摘要

该文研究无线电及电子产品的贮存可靠性问题,针对某典型无线电产品建立仿真分析的数学模型,进行加速寿命试验,以试验数据为基础建立"三大关系",进而完成了仿真分析,得出电子产品贮存失效的基本规律,确定电子产品的具体可靠贮存年限,并得出加速寿命试验与自然储存的时间对应关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁武学	南京理工大学机械工程学院	52	337	10.0	16.0