基于丢失手缺陷的IC互连线失效评估新模型

• 作者: 姜晓鸿 段旭朝 赵天绪
• 来源期刊: 宝鸡文理学院学报(自然科学版)
• 学科: 数学
• 关键词: 丢失物缺陷 电迁移 失效估模型
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 博士论坛
• 页码范围: 33-35,62
• 页数: 4页
• 分类号: O223
• 字数: 2185字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1261.2002.01.004

摘要

在分析现有的集成路互连线失效评估模型的基础上,提出了一种考虑丢失物缺陷影响的IC互连接线电迁移损失新模型.在IC电路设计中,这种新模型可用于估计与丢失物缺陷及其它因素有关的IC互连线电迁移损失.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵天绪	宝鸡文理学院数学系	31	129	6.0	9.0
2	段旭朝	宝鸡文理学院物理系	23	58	4.0	6.0
3	姜晓鸿	西安电子科技大学应用数学系	6	23	3.0	4.0