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摘要:
本文讨论了存储测试系统的存储单元电路.指出随着半导体技术和微电子科学的发展,传统的存储单元电路已不能适应当今条件下存储测试的要求.基于此,我们提出了在电路中使用了大容量存贮器--Flash电子盘.实践证明采用Flash电子盘的电路比以往的电路具有更多的优点.
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存储测试
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Flash电子盘在存储测试中的应用
来源期刊 测试技术学报 学科 工学
关键词 Flash电子盘 存储测试
年,卷(期) 2002,(z1) 所属期刊栏目 计算机辅助测试CAT
研究方向 页码范围 585-588
页数 4页 分类号 TP3
字数 1254字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1671-7449.2002.z1.122
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王宇龙 3 5 1.0 2.0
2 李存成 1 1 1.0 1.0
传播情况
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2008(1)
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研究主题发展历程
节点文献
Flash电子盘
存储测试
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
测试技术学报
双月刊
1671-7449
14-1301/TP
大16开
太原13号信箱
22-14
1986
chi
出版文献量(篇)
2837
总下载数(次)
7
总被引数(次)
13975
论文1v1指导