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电子元器件失效机理验证试验
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摘要：
以某重点型号工程上失效的KG25A电路的失效模拟和失效机理验证为例，重点说明元器件的1种重要失效机理——电过应力(EOS)损伤模拟试验的方法和步骤，同时归纳出元器件失效模拟和失效机理验证的一般程序和方法。
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文献信息
| 篇名 | 电子元器件失效机理验证试验 | ||
| 来源期刊 | 电子元器件应用 | 学科 | 工学 |
| 关键词 | 失效机理 电过应力 模拟试验 | ||
| 年，卷（期） | dzyqjyy_2003,（5） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 50-53 | |
| 页数 | 4页 | 分类号 | TN407 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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研究主题发展历程
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失效机理
电过应力
模拟试验
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期刊影响力
电子元器件应用
主办单位：
中国电子元件行业协会
出版周期：
月刊
ISSN：
1563-4795
CN：
开本：
大16开
出版地：
西安市科技路37号海星城市广场B座240
邮发代号：
创刊时间：
1999
语种：
chi
出版文献量（篇）
5842
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