元器件内部气体含量与可靠性研究

• 作者: 李京苑 毛振敏
• 来源期刊: 混合微电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 密封元器件 气体含量 可靠性 腐蚀 失效 氧化 绝缘性能
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 页码范围: 125-129
• 页数: 5页
• 分类号: TN606
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	毛振敏	航天科技集团一院物资部	6	0	0.0	0.0
2	李京苑	航天科技集团一院物资部	1	0	0.0	0.0