空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估技术研究

• 作者: 何宝平 周辉 王桂珍 郭红霞 龚建成
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: MOS器件 低剂量率 电荷效应 反弹现象
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 粒子束及加速器技术
• 页码范围: 275-278
• 页数: 4页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 4108字
• 语种: 中文

摘要

介绍了LC4007RHA和LC4007RHB两种器件空间低剂量率辐射诱导电荷效应评估情况,研究结果表明:在MIL-STD 883C 测试方法1019.4的基础上,60Co辐照加25℃室温退火,可以提供对空间氧化物陷阱电荷效应相对于1019.4不太保守的估计;另外,就美军标1019.4测试方法中利用100℃ 168h高温加速"反弹"实验来检验空间环境中与界面态相关的失效可能出现的现象进行了讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周辉		84	938	16.0	26.0
2	何宝平		46	291	9.0	13.0
3	龚建成		27	110	6.0	8.0
4	郭红霞		81	385	10.0	13.0
5	王桂珍		32	156	7.0	9.0