光学亚表面损伤的探测和后处理技术

• 作者: 张清华 陈宁
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 工学
• 关键词: 光学元件 亚表面损伤 固体激光器 无损检测 后处理
• 年，卷（期）: 2003,（1）
• 页码范围: 356-357
• 页数: 2页
• 分类号: TN248.1

摘要

光学元件的损伤问题已成为高功率固体激光装置研制的核心问题，而紫外的损伤尤为严重。光学元件的激光损伤与能吸收能量的多种缺陷有关，例如：表面污染、表面擦伤和材料本体的缺陷(气泡或所含杂质)等。研究工作拟从光学元件的亚表面损伤人手，探测不同的光学制造工艺造成的特征亚表面缺陷，研究这些缺陷对激光损伤研制的影响。建立亚表面缺陷化学后处理装置，减少或消除亚表面缺陷所引起激光损伤的程度，为光学元件制造工艺选型提供必要的依据。